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美國(guó)Calmetrics Pd/xx 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片

簡(jiǎn)要描述:

美國(guó)Calmetrics Pd/xx 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片是美國(guó)Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)的,它是專門(mén)用來(lái)為各*的測(cè)厚儀建立標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試檔案的,是衡量檢測(cè)X射線鍍層測(cè)厚儀測(cè)試結(jié)果是否準(zhǔn)確的標(biāo)準(zhǔn)。它又名鍍層標(biāo)準(zhǔn)片,膜厚標(biāo)準(zhǔn)片或者鍍層標(biāo)樣,金屬元素標(biāo)準(zhǔn)片等等。
用于標(biāo)定X射線測(cè)厚儀

更新時(shí)間:2023-04-24

品牌Calmetrics/美國(guó)貨號(hào)HxPd/xx
規(guī)格Pd/xx供貨周期現(xiàn)貨
主要用途標(biāo)定X射線測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,能源,電子
品牌美國(guó)CALMETRICS

美國(guó)Calmetrics Pd/xx 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片詳細(xì)說(shuō)明:

Calmetrics是美國(guó)原廠制作標(biāo)準(zhǔn)片的專業(yè)認(rèn)證公司,其專門(mén)為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測(cè))Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。

美國(guó)Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標(biāo)準(zhǔn)件及元素含量標(biāo)準(zhǔn)件,提供對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件的校準(zhǔn)服務(wù),公司通過(guò)ISO/IEC17025認(rèn)證。公司提供所有證書(shū)符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院)標(biāo)準(zhǔn)或ANSI (American National Standards Institute美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì))標(biāo)準(zhǔn)。

其生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)片質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好。 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

標(biāo)準(zhǔn)片分單層標(biāo)準(zhǔn)片、雙層標(biāo)準(zhǔn)片、多層標(biāo)準(zhǔn)片,其中單層標(biāo)準(zhǔn)片又可分為單元素標(biāo)準(zhǔn)片、單元素薄片鍍?cè)诘撞纳?、純?cè)氐撞臉?biāo)準(zhǔn)片、合金薄片、合金鍍?cè)诘撞纳系???筛鶕?jù)客戶個(gè)性化需要定制。所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST認(rèn)證證書(shū)我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國(guó)工廠定做合格的標(biāo)準(zhǔn)片,并附有標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書(shū)。

美國(guó)Calmetrics Pd/xx 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片產(chǎn)品圖片:


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Calmetrics Pd/xx 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片用于標(biāo)定X射線測(cè)厚儀

Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于各種品牌的X射線測(cè)厚儀(涂鍍層厚度測(cè)試儀),例如:Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測(cè))、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測(cè)厚儀(膜厚計(jì))。

鍍層標(biāo)準(zhǔn)片規(guī)格列表:

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元素厚度可定制?。?!







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