公司介紹

廣州鴻熙電子科技有限公司于2013年7月13日成立。公司位于珠三角交通樞紐廣州市增城區(qū)新塘鎮(zhèn)。創(chuàng)始人在著名跨國科研儀器公司任職逾12年，對科研儀器行業(yè)有非常豐富的經(jīng)驗。

公司的分析光譜儀，集鍍層厚度、金屬成份分析、RoHS檢測于一體，具備*的性價比。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子制造、礦山、化工、金銀首飾、冶煉及金屬加工、機械等行業(yè)，對企業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)檢測、成本控制、生產(chǎn)效率的提高有著*的經(jīng)濟價值。經(jīng)過大量環(huán)境試驗、生物實驗及相關(guān)檢測實驗中心的數(shù)據(jù)驗證，本公司所生產(chǎn)的分析光譜儀的度及性能居同行業(yè)地位。

公司研發(fā)隊伍強勁，并與韓國X射線研究所、美國密西根大學(xué)光譜領(lǐng)域?qū)＜摇?/span>清華大學(xué)精密儀器系教授攜手合作，以歐美現(xiàn)有技術(shù)為基礎(chǔ)，在X射線光譜儀核心技術(shù)上取得重大突破的同時，還擁有40多項*的技術(shù)和差異化產(chǎn)品，多項核心技術(shù)處于水平。公司與韓國ISP的合作產(chǎn)品在中國大陸主要以客戶為主，其以優(yōu)質(zhì)的性價比獲得了客戶的*。

膜厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩(wěn)定性高（見以下產(chǎn)品特征詳述）。

2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達220*220*10mm。（固定臺可選）

3. 激光定位和自動多點測量功能。

• 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
• 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
• 可進行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。
• 操作簡單、易學(xué)易懂、無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果。
• 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
• 軟件*升級。
• 無損檢測，一次性購買標(biāo)樣可使用。
• 使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi)，提供保姆式服務(wù)。
• 可以遠(yuǎn)程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
• 可進行RoHS檢測（選配功能），測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。

（二）產(chǎn)品特征

• 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
• 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。

• Multi Ray. 運用基本參數(shù)（FP）軟件，通過簡單的三步進行無標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法，對樣品進行的鍍層厚度分析。

可以增加RoHS檢測功能。

• MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄鍍層厚度測量

相對（比）模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

• 測試能力（基本配置：PIN探測器+0.3準(zhǔn)直器）

   當(dāng)化金厚度在2u〞-5u〞時，測量時間為40S

   準(zhǔn)確度規(guī)格 ±5% 

   度規(guī)格 <5%（COV變動率）

   當(dāng)化金厚度 >5u〞時，測量時間為40S

   準(zhǔn)確度規(guī)格 ±5%

   度規(guī)格 <5%（COV變動率）

   當(dāng)化銀厚度在5u〞-15u〞時，測量時間為40S

   準(zhǔn)確度規(guī)格 ±8%

      度規(guī)格 <7%（COV變動率）

   測化錫時，測量時間為40S

   準(zhǔn)確度規(guī)格 ±8%

   度規(guī)格 <6% （COV變動率）

      準(zhǔn)確度公式：準(zhǔn)確度百分比=（測試10次的平均值-真值）/真值*100%

   度COV公式： （S/10次平均值）*100%

• Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
• 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù)，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
• 自動移動平臺，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

膜厚儀產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明

1. X射線管：高穩(wěn)定性X光光管，使用壽命（工作時間>18,000小時）

微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口， 陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

• 探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

• 濾光片/可選

初級濾光片：Al濾光片，自動切換

7個準(zhǔn)直器：客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

• 平臺：軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。
  激光定位、簡易荷載大負(fù)載量為5公斤
  軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量
• 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線：

- 2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）

- 基點改正（基線本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示

7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍：3mm x 3mm

- 放大倍數(shù)：40X

- 照明方法：上照式

- 軟件控制取得高真圖像

8. 計算機、打印機（贈送）

• 含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標(biāo)
• 含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
• Multi-Ray鍍層分析軟件

注：設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器，需另計。