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產(chǎn)品分類
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X射線膜厚測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:

產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:X射線膜厚測(cè)試儀
型 號(hào):iEDX-100T
生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司

更新時(shí)間:2023-04-24

品牌ISP/韓國行業(yè)專用類型通用
價(jià)格區(qū)間10萬-30萬儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,地礦,電子

(一)X射線膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

1. 鍍層檢測(cè),多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。

2. 儀器尺寸:618*525*490mm。

3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。

運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。

可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性,半定量分析。

操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測(cè)結(jié)果。

可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

軟件*升級(jí)。

無損檢測(cè),一次性購買標(biāo)樣可長期使用。

使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi),提供*保姆式服務(wù)。

可以遠(yuǎn)程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。

可進(jìn)行RoHS檢測(cè)(選配功能),應(yīng)對(duì)新版中華人民共和國RoHS檢測(cè)要求,歐盟及北美RoHS檢測(cè)等要求標(biāo)準(zhǔn),精確的測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測(cè)試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對(duì)成分進(jìn)行分析。

(二)X射線膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品特征

高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)

Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定,使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法,對(duì)樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析,可以增加RoHS檢測(cè)功能。

MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測(cè)量

相對(duì)(比)模式  無焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量

單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊??赏瑫r(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件??梢淮涡苑治?5種元素。小二乘法計(jì)算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢(shì)線,Cp 和 Cpk 因素等

自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量。大測(cè)量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

(三)X射線膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明

u 測(cè)量原理:能量色散X射線分析

u 樣品類型:固體/粉末

u X射線光管:50KV,1mA

u過濾器:多重濾光片自動(dòng)轉(zhuǎn)換

u檢測(cè)系統(tǒng):SDD探測(cè)器(或Si-Pin)

u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

u檢測(cè)元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準(zhǔn)直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應(yīng)用程序語言:韓/英/中

u分析方法:FP/校準(zhǔn)曲線,吸收,熒光

u儀器尺寸:618*525*490mm

u樣品腔尺寸:340*280*108mm

X射線管:高穩(wěn)定性X光光管

微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

50kV,1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供優(yōu)異性能。

探測(cè)器:SDD 探測(cè)器(可選Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

濾光片/可選

初級(jí)濾光片:Al濾光片,自動(dòng)切換

7個(gè)準(zhǔn)直器:客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能

分析譜線:

- 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

- 基點(diǎn)改正(基線本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(cè)量讀數(shù)自動(dòng)顯示

視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍數(shù):40X

- 照明方法:上照式

- 軟件控制取得高真圖像

計(jì)算機(jī)、打印機(jī)(贈(zèng)送)

含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)

含Win 7/Win 10系統(tǒng)。

Multi-Ray鍍層分析軟件

 


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